Workshop Microscopia Eletrônica para Micro- e Nano-Dispositivos - De 4 a 6 de Fevereiro 2019 no CTI Renato Archer Vagas Limitadas Acesse a programação completa: www.cti.gov.br

O CTI promove, juntamente com as empresas TESCAN ORSAY e Bruker Nano Analytics, um workshop com o objetivo de avançar as aplicações em nanotecnologia e em dispositivos semicondutores, micromecânicos e fotônicos. O workshop conta com a visita de especialista da TESCAN que fará uma exposição de técnicas disponíveis no sistema MIRA3XG:

  • Litografia por feixe de elétrons e correção do efeito de proximidade com o software Drawbeam;
  • EBIC - Imageamento de junções dopadas em semicondutores com a técnica de corrente induzida;
  • VC - Imageamento por Contraste de Voltagem;
  • Micromanipulação de nanorobôs para teste elétrico; (Imina Technologies)
  • EDS - espectroscopia de dispersão em energia: microanálise quantitativa de raios-X; (Bruker)
  • Técnicas avançadas de análise de imagens. (TBD)

Informações do Workshop

  • Público alvo: Especialistas em Microscopia Eletrônica e Pesquisadores em Micro- e Nano-dispositivo
  • Data: de 5 a 6 de fevereiro de 2019
  • Vagas limitadas
  • Inscrições: até 01 fevereiro de 2019 - encaminhar nome completo, nº de RG, empresa e função para dirin@cti.gov.br
  • Local: Auditório do Centro de Tecnologia da Informação Renato Archer
  • Mais informações: www.cti.gov.br

Sobre o Workshop

O Workshop é parte do projeto FINEP LIMICRO e será um veículo para disseminar o conhecimento entre a comunidade Brasileira de especialistas em microscopia eletrônica atuando nas áreas de dispositivos e nanotecnologia. Pretendemos demonstrar aplicações associadas às técnicas disponíveis no nosso microscópio.

O workshop também visa estimular compartilhamento informações e as colaborações técnico-científicas. Nesse sentido solicitamos que os participantes apresentem pôsteres com os trabalhos em andamento e técnicas em uso nos seus Laboratórios, para discussão e conhecimento geral dos participantes.

Finalmente, como parte workshop, haverá demonstrações da operação do microscópio eletrônico de varredura Tescan MIra XMU durante o evento, bem como visitas aos laboratórios de micro e nano fabricação, nanomateriais, encapsulamento eletrônico, teste e qualificação de componentes, e a área de manufatura aditiva avançada.

Sobre o CTI

O Centro de Tecnologia da Informação Renato Archer conta com Nova Direção desde dezembro de 2018 e busca nesta nova gestão apoiar uma maior aproximação com a comunidade técnico-científica do Brasil. Atuará para estimular ações para transferência de tecnologia e mecanismos de inovação que promovam o avanço da indústria brasileira baseada nos investimentos realizados em ciência e tecnologia no país. Neste novo ciclo, a busca do efetivo compartilhamento da infraestrutura científica e tecnológica do nosso parque será um dos principais focos.

Sobre a TESCAN

A TESCAN é um dos principais fornecedores globais de microscopia eletrônica de varredura e soluções para ciência de materiais, indústria, biologia e ciências da vida, ciência forense, microeletrônica e outras áreas. Recentemente expandiu seu portfólio de produtos passando a produzir os sistemas de microtomografia de raios x de alta resolução para análise temporal. No Brasil é líder na área de microscopia eletrônica de varredura com equipamentos instalado em todo o território com renomado suporte de pós-vendas. Com sede em São Bernardo do Campo conta com laboratório de aplicações onde possui um microscópio eletrônico para demonstração, atendimento ao cliente e treinamentos.

Agenda

Data

Hora

Atividade

05.Fev

8:00 -  8:30

Reception & Registration

8:30 - 9:00

Introduction to CTI´s open laboratories - F. Ely/CTI

9:00 -  9:30

P1 - Overview of SEM MicroAnalysis and Testing - TBD/Tescan

9:30 - 10:00

P2 - Innovative products from TESCAN - H. Tesarova/Tescan

10:00 - 10:30

P3 - Electron Beam-Induced Current and Voltage Contrast - H. Tesarova/Tescan

10:30 - 10:45

Coffee Break

10:45 - 11:15

P4 - STEM - H. Tesarova/Tescan

11:15 - 12:15

P5 - EDS - Advanced Microprobe Techniques -  D. Andrade/Bruker

12:15 - 14:00

Lunch Break

14:00 - 17:00

Tour of Facilities & Demo of SEM/STEM/EBIC/EDS (2 groups alternating)

 

Data

Hora

Atividade

06.FEv

 

8:30 - 9:00

P6 - Introduction to Mixed Photo and Electron Beam Lithography - R. Panepucci/CTI

9:00 -  9:30

P7 - Electron Beam Lithography with Proximity Correction - H. Tesarova/Tescan

9:30 - 10:30

P8 - Imina - In-situ testing with Nanorobotics - K. Boche/ Imina Tech

10:30 - 10:45

Coffee Break

10:45 - 11:15

P9 - MountainsMap - A digital image processing tool for 3D Mapping

11:15 - 12:15

P10 - The application of SEM-EDS and Micro-XRF to Semiconductors and Nanomaterials Dr. A. Menzies/Bruker

12:15 - 14:00

Lunch Break

14:00 - 15:00

Tour of Facilities & Demo of Imina/SEM and Mountains Map (2 groups alternating)

14:00 - 16:00

Poster Session and Experience Exchange in Micro/Nano devices

 

No tema do workshop, divulgamos a 63a conferência internacional EIPBN - Electron, ion and photon Beam and Nanotechnology. www.eipbn.org

A Conferência EIPBN é dedicada à ciência de padrões litográficos, à tecnologia de processo de nanofabricação e às aplicações que esses métodos possibilitam.
Durante 62 anos e 63 reuniões, a conferência reuniu engenheiros e cientistas de indústrias e universidades de todo o mundo para relatar e discutir o progresso recente e as tendências futuras.

Data limite para a submissão de resumos: 08.02.2019

O CTI participa do comitê técnico da conferência